日経エレクトロニクス 2001/08/13号

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アナ・デジ混在テスタ 試験速度は最大500MHz,8個同時に試験可能

アドバンテストは,最大500MHzの試験速度で,最大8個のLSIに対し,アナログ・デジタル混在の試験が可能なテスタ「T6673」を発売した。携帯電話機のベースバンド処理LSIなどに向ける。分解能16ビットの任意波形発生器や波形デジタイザをオプションで用意した。(54ページ掲載記事から抜粋) *テキスト版記事の文字数:281文字

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関連カテゴリ・企業名
【記事に含まれる分類カテゴリ】
エレクトロニクス > エレクトロニクス設計・製造 > 検査技術・装置(エレクトロニクス)
【記事に登場する企業】
アドバンテスト
update:18/08/02