日経エレクトロニクス 2004/04/12号

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LSI内部の配線まで検査 NECが放射雑音測定プローブを開発

 NECはLSI内部の電源配線の放射電磁雑音を1本ずつ測定できる微小プローブを開発した。測定可能な配線ピッチは最小40μmで分解能が高い。従来のプローブの分解能は250μm程度で,LSIのパッケージ・レベルでしか放射電磁雑音を測定できなかった。今回の開発品を使えば,LSIに集積した複数の回路ブロックのどの部分が放射雑音の原因かを特定できる。(41ページ掲載記事から抜粋) *テキスト版記事の文字数:370文字

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関連カテゴリ・企業名
【記事に含まれる分類カテゴリ】
エレクトロニクス > エレクトロニクス設計・製造 > 検査技術・装置(エレクトロニクス)
【記事に登場する企業】
NEC
update:18/07/31