日経エレクトロニクス 2005/01/03号

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メモリ用テスタ  512個を同時測定可能

横河電機は,NAND型/NOR型フラッシュEEPROMを高速に試験可能な量産用テスタ「MT6060」を発売する。同時測定可能な個数は512個と,同社従来品の2倍。DRAMや疑似SRAM,SRAMなどの試験にも使える。2004年度に60台,2005年度に200台の販売を狙う。(46ページ掲載記事から抜粋) *テキスト版記事の文字数:269文字

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【記事に含まれる分類カテゴリ】
エレクトロニクス > エレクトロニクス設計・製造 > 検査技術・装置(エレクトロニクス)
【記事に登場する企業】
横河電機
update:18/07/31