日経エレクトロニクス 2005/07/18号

NETs
機器設計の落とし穴 現実の脅威「サイドチャネル解析」(1)
消費電力などを測定し,「安全な暗号」を数分で破る

暗号の研究は,初期の数学の領域(アルゴリズム)から工学の領域(製品実装)に移り,現在は物理学の領域,すなわち製品から漏れる電磁波などの測定による暗号解析「サイドチャネル解析」に注目が集まっている。連載第1回は,その原理および業界動向を紹介する。(141〜153ページ掲載記事から抜粋) *テキスト版記事の文字数:11993文字

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update:19/09/26