日経エレクトロニクス 2007/10/08号 別冊

試験計測の刷新への対応
Serial ATAの計測技術馴染み深い手法を破棄してでも見直したい試験基準がある

技術標準だけではなく,認証試験の計測手法もまた常に進化しています。標準化団体は認証試験の厳格化に向けて試験内容を常に見直しています。その結果,計測手法自体がガラリと変わってしまった例があります。なじみ深いアイ・ダイヤグラム試験がなくなったSerial ATAです(48〜57ページ掲載記事から抜粋) *テキスト版記事の文字数:14138文字

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update:19/09/26