日経エレクトロニクス 2007/10/08号 別冊

性能や品質の基準
SDH/OTNの計測技術 公正な性能競争に必要な標準的な計測手法

規格認証試験では,合格基準を上回る性能や品質には大した意味がありません。しかし,基幹網の市場では基準を超えた製品仕様を競うことになります。ユーザーが製品を選択するためには,基準になる統一指標が必要です。また,製造時の品質管理や販売後の保守でも,開発時と同じ基準で計測する場合があります。(58〜67ページ掲載記事から抜粋) *テキスト版記事の文字数:12955文字

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update:18/07/30