日経エレクトロニクス 2007/11/19号

特報
Cプログラムの検証をモデル検査で NECや松下が相次ぎ技術開発
LSI設計の検証技術を応用

 NECおよび松下電器産業は,「モデル検査(model checking)」†と呼ぶ技術を応用して,メモリ・リーク†などC言語プログラムの実行時エラーを検出する技術を,それぞれ開発した注1)。一般にメモリ・リークなどの実行時エラーは,プログラムを実際に実行するテスト,特に開発工程後半のシステム・テスト時に検出することが多いが,今回の技術は一種の静的検証ツールとして利用できる…(12〜13ページ掲載記事から抜粋) *テキスト版記事の文字数:2815文字

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関連カテゴリ・企業名
【記事に含まれる分類カテゴリ】
エレクトロニクス > エレクトロニクス設計・製造 > 設計(エレクトロニクス)
【記事に登場する企業】
NEC
パナソニック
update:19/09/26