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レーザ干渉計用の　干渉縞解析装置

　「FX−03N」は普及型の干渉解析装置。OA機器に使う光学素子の表面形状測定機としてレーザ干渉計が広く普及している　。ただし得られる干渉縞（じま）を読み取る画像解析装置が高価なため，ほとんどの現場では縞を目視検査していた。　CPUを高速化して解析時間を従来比で半減した。液晶ディスプレイ，タワー形の本体を採用，製造ラインで空間を無駄にしない。(71ページ掲載記事から抜粋) *テキスト版記事の文字数：394文字

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