日経マイクロデバイス 2004/01号

WEB Access Ranking[L
勝ち組みキヤノンを支える 他のLSI現場とは異なる SoC検証体制とは?

 キヤノンのSOCデザインセンターの所長を務める谷泰弘氏は,LSIの検証に的を絞ったセミナー「Verify 2003 in Japan」で講演し,同社のLSI検証体制などについて語った。同社は,いわゆる「勝ち組み」の企業である。それを支える技術の一つが画像処理LSIを中心としたSoC(system on a chip)といえる。(116ページ掲載記事から抜粋) *テキスト版記事の文字数:600文字

この記事をオンラインで読む
買い物カゴに入れる110円
買い物カゴに入れる(読者特価)55円
 特価が表示されない場合は下の (※)をご覧ください

(※) 「読者特価」でご購入の際、日経IDに未ログインの場合は途中で通常価格が表示されることがあります。ご購入画面をそのまま進んでいただき、「次へ(お客様情報の入力へ)」のボタン押下後に表示されるログイン画面で日経IDをご入力ください。特価適用IDであれば、表示が特価に変わります。

関連カテゴリ・企業名
【記事に含まれる分類カテゴリ】
エレクトロニクス > CPU・LSI製品・技術 > IC・LSI
エレクトロニクス > エレクトロニクス設計・製造 > 設計(エレクトロニクス)
【記事に登場する企業】
キヤノン
update:19/09/26