日経マイクロデバイス 2004/07号

Cover Story 次のLSIの競争力
次のLSIの競争力

LSIメーカーの競争力の源泉が,大きく変わり始めた。設計・製造といった“作る技術”から,検査・解析・テストという“見る技術”にシフトしている。新材料の導入やチップの大規模化によって,トラブルの原因を究明することが困難になってきたからである。逆に,見る技術を強化できれば他社を圧倒できる可能性が高い。検査・解析・テストを軸にLSIメーカーの新たな競争が始まった。(27ページ掲載記事から抜粋) *テキスト版記事の文字数:978文字

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この特集全体
Cover Story 次のLSIの競争力(27ページ掲載)
次のLSIの競争力
Cover Story Part1 次のLSIの競争力(28〜31ページ掲載)
LSI製造力 “作る”から“見る”へ
Cover Story Part1 次のLSIの競争力(32〜33ページ掲載)
検査に付加価値が集中 装置メーカーは飛躍のチャンス
Cover Story Part2 次のLSIの競争力(34〜41ページ掲載)
歩留まり低下の処方せん “見えない欠陥”を観る技術
Cover Story Part3 次のLSIの競争力(42〜49ページ掲載)
遅延時間のチェックが必須に テスト・コスト最適化に各社が知恵絞る
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【記事に含まれる分類カテゴリ】
エレクトロニクス > CPU・LSI製品・技術 > IC・LSI
update:19/09/26