日経マイクロデバイス 2004/07号

Cover Story Part1 次のLSIの競争力
LSI製造力 “作る”から“見る”へ
動向

検査・解析技術が,LSIの“製造力”を左右するようになった。1970年代以降2000年ころまで,LSI製造力はプロセス技術そのものと言えた。ここへ来て,製造装置によって汎用的になりつつあるプロセス技術に変わって,ノウハウの塊とも言える検査・解析技術が脚光を浴び始めている。事業の収益を大きく支配するようになったからである。(28〜31ページ掲載記事から抜粋) *テキスト版記事の文字数:4597文字

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この特集全体
Cover Story 次のLSIの競争力(27ページ掲載)
次のLSIの競争力
Cover Story Part1 次のLSIの競争力(28〜31ページ掲載)
LSI製造力 “作る”から“見る”へ
Cover Story Part1 次のLSIの競争力(32〜33ページ掲載)
検査に付加価値が集中 装置メーカーは飛躍のチャンス
Cover Story Part2 次のLSIの競争力(34〜41ページ掲載)
歩留まり低下の処方せん “見えない欠陥”を観る技術
Cover Story Part3 次のLSIの競争力(42〜49ページ掲載)
遅延時間のチェックが必須に テスト・コスト最適化に各社が知恵絞る
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【記事に含まれる分類カテゴリ】
エレクトロニクス > CPU・LSI製品・技術 > IC・LSI
エレクトロニクス > エレクトロニクス設計・製造 > 検査技術・装置(エレクトロニクス)
update:19/09/26