日経エレクトロニクス 2008/10/20号

チュートリアルとびら
チュートリアル
10−202008

<機器開発を加速する電波環境の再現システム ─前編─>信号を劣化させる反射や干渉現地試験の繰り返しがコスト増を招く……160<3次元化するIC>止まらないICの高集積化Si貫通ビアの実用化に焦点……168…(159ページ掲載記事から抜粋) *テキスト版記事の文字数:163文字

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update:19/09/26